Petrologic Synergy possiede un’ampia competenza per la caratterizzazione dei materiali nano e cripto-cristallini, ad esempio vetri, argille, alterazioni di superficie, particolati ambientali, cementi, leghe metalliche, pigmenti, materiali porosi, particelle nanostrutturate.
I metodi analitici includono:
- Diffrazione a polvere di raggi-X (XRPD)
- Microscopia a scansione elettronica (SEM)
- Microscopia a trasmissione elettronica (TEM)
- Microscopia ad alta risoluzione (HRTEM)
- Diffrazione elettronica
- Spettroscopia chimica(EDXS)
L’analisi microscopica e spettroscopica permette l’identificazione della dimensione, morfologia, orientamento preferenziale, composizione chimica, struttura e livello di dispersione delle particelle coinvolte in diversi processi.
Petrologic Synergy offre inoltre la possibilità di eseguire la Tomografia a diffrazione Elettronica (EDT) per la rilevazione dei dati di diffrazione in 3D da singoli nano cristalli, così da garantire una completa caratterizzazione strutturale del materiale.